十二年來，蔡司METROTOM係列一直為質量控製提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描(CT)係統蔡司METROTOM 1500很好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的願景。今天
，您可以使用麵向未來的質量控製。

　　蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁製部件的圖像比較。由於體素尺寸較小，新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細節。

　　看得更多

　　在第三代係統中
，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集
，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。

　　掃描更快

　　通過檢測器的不同操作模式，掃描時間可減少多達75%，同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。

　　使用蔡司METROTOM輕鬆進行測量

　　測量與檢驗整體部件

　　蔡司METROTOM是(shi)一(yi)種(zhong)工(gong)業(ye)計(ji)算(suan)機(ji)斷(duan)層(ceng)掃(sao)描(miao)係(xi)統(tong)
，用(yong)於(yu)測(ce)量(liang)和(he)檢(jian)查(zha)由(you)塑(su)料(liao)或(huo)輕(qing)金(jin)屬(shu)製(zhi)成(cheng)的(de)完(wan)整(zheng)部(bu)件(jian)。而(er)在(zai)利(li)用(yong)傳(chuan)統(tong)測(ce)量(liang)機(ji)測(ce)量(liang)時(shi)，此(ci)類(lei)隱(yin)藏(zang)性(xing)的(de)結(jie)構(gou)信(xin)息(xi)隻(zhi)有(you)將(jiang)零(ling)件(jian)通(tong)過(guo)費(fei)時(shi)的(de)層(ceng)層(ceng)破(po)壞(huai)方(fang)能(neng)獲(huo)得(de)。

　　輕鬆且*準地進行多樣化特征檢測

　　利用蔡司METROTOM 計算機斷層掃描係統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同
，蔡司METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。

　　直觀簡易的軟件操作

　　僅需通過短時間的蔡司METROTOM OS 軟件培訓課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內部。通過蔡司CALYPSO和NEO軟件
，您可以評估CT數據
，通過蔡司PiWeb，它們可以在一個測量報告中快速合並。